| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|
| 序号 | 姓名 | 职称 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 1 | 齐海涛 | 高级工程师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 2 | 赵堃 | 哈尔滨工业大学 | |
| 3 | 张丽 | 助理工程师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 4 | 程红娟 | 高级工程师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 5 | 史月增 | 助理实验师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 6 | 张颖 | 助理实验师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 7 | 洪颖 | 高级工程师 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
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| 序号 | 关键词 | 操作 |
|---|---|---|
| 1 | 辐照缺陷 | |
| 2 | 吸收谱 | |
| 3 | 缺陷全谱 | |
| 4 | 缺陷演变理论 | |
| 5 | AlN单晶 |
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