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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|
| 序号 | 姓名 | 职称 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 1 | 刘敏 | 高级工程师 | 北京工业大学 |
| 2 | 乔彦彬 | 中国科学院固体物理研究所 | |
| 3 | 吴艳艳 | 北京工业大学 | |
| 4 | 魏光华 | 北京工业大学 | |
| 5 | DapingChu | 教授 | 英国剑桥大学 |
| 6 | 刘敏 | 高级工程师 | 北京工业大学 |
| 7 | 乔彦彬 | 中国科学院固体物理研究所 | |
| 8 | 吴艳艳 | 北京工业大学 | |
| 9 | 魏光华 | 北京工业大学 | |
| 10 | DapingChu | 教授 | 英国剑桥大学 |
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| 序号 | 关键词 | 操作 |
|---|---|---|
| 1 | 失效机理 | |
| 2 | 疲劳 | |
| 3 | 铁电随机存储器 | |
| 4 | 铁电薄膜 | |
| 5 | 缺陷 |
